Ex-Tarifário 9030.82.10001 — Revogado

Equipamentos para testes automáticos de circuitos integrados semicondutores de memórias do tipo DRAM, LPDRAM, eMCP, eMMC e NAND Flash, com capacidade de testagem de até 20 componentes por vez, com capacidade de operação de testes em frequência de até 3.200MHz, equipamento realiza padrões de testes funcionais elétricos e paramétricos, do tipo corrente alternada (AC) tais como: varredura automática por tempo, varredura automática por pulso, varredura automática de “clock”, verificação de curtos circuitos no componente, retenção de dados e do tipo corrente contínua (DC) tais como: fuga de corrente, falhas de contato, contendo soquetes para realização do contato elétrico entre o circuito integrado e o equipamento, necessários para a realização dos testes, com “software” incorporado e uma estação de trabalho que consiste em um monitor, um teclado e um mouse conectados no computador principal do testador, fazendo a interface entre o equipamento e o usuário, para realização de manutenção, programação e operação do equipamento.